Koszyki

Musisz się zalogować, zeby mieć dostęp do koszyków

 

(0)

Sieć Badawcza Łukasiewicz (23)

RP_01375215_0004
RP_01375215_0004
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z dr inz. Tymoteusz Ciuk, dyrektor Zakladu Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0005
RP_01375215_0005
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z dr inz. Tymoteusz Ciuk, dyrektor Zakladu Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0007
RP_01375215_0007
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z dr inz. Tymoteusz Ciuk, dyrektor Zakladu Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0010
RP_01375215_0010
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z dr inz. Tymoteusz Ciuk, dyrektor Zakladu Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0012
RP_01375215_0012
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z dr inz. Tymoteusz Ciuk, dyrektor Zakladu Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0001
RP_01375215_0001
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z plytka z grafenowymi czujnikami pola magnetycznego Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0002
RP_01375215_0002
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z plytka z grafenowymi czujnikami pola magnetycznego Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0003
RP_01375215_0003
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0006
RP_01375215_0006
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z urzadzenie do osadzania warstw atomowych Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0008
RP_01375215_0008
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z urzadzenie do osadzania warstw atomowych Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0009
RP_01375215_0009
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z urzadzenie do osadzania warstw atomowych Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0011
RP_01375215_0011
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z plytka z grafenowymi czujnikami pola magnetycznego Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0013
RP_01375215_0013
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z urzadzenie do osadzania warstw atomowych Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0014
RP_01375215_0014
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z urzadzenie do osadzania warstw atomowych Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0015
RP_01375215_0015
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z urzadzenie do osadzania warstw atomowych Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0016
RP_01375215_0016
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z urzadzenie do osadzania warstw atomowych Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0017
RP_01375215_0017
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z urzadzenie do osadzania warstw atomowych Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0018
RP_01375215_0018
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z urzadzenie do osadzania warstw atomowych Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0019
RP_01375215_0019
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z urzadzenie do osadzania warstw atomowych Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0020
RP_01375215_0020
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z urzadzenie do osadzania warstw atomowych Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0021
RP_01375215_0021
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z urzadzenie do osadzania warstw atomowych Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0022
RP_01375215_0022
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z urzadzenie do osadzania warstw atomowych Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER
RP_01375215_0023
RP_01375215_0023
06.05.2019 Warszawa Siec Badawcza Lukasiewicz - Instytut Technologii Materialow Elektronicznych, Laboratorium Zakladu Grafenu i Materialow dla Elektroniki N/z urzadzenie do osadzania warstw atomowych Fot Tomasz Jastrzebowski/REPORTER